由種種原因引起的干擾將嚴重地影響局部放電試驗。假使這些干擾是連續(xù)的而且其幅值是基本相同的（背景噪聲），它們將會降低局部放電測試儀的有效靈敏度，即Zui小可見放電量比所用試驗線路的理論Zui小值要大。這種形式的干擾會隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。
GDPD-414便攜式局部放電帶電巡檢儀
在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗線路中出現的放電，可以認為是發(fā)生在試驗樣品的內部。因此，重要的是將干擾降低到Zui小值，以及使用帶有放電實際波形顯示的局放儀，以Zui大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應。
干擾的主要形式如下：
(1)來自電源的干擾；
(2)來自接地系統的干擾；
(3)從別的高壓試驗或者電磁輻射檢測到的干擾；
(4)試驗線路的放電；
(5)由于試驗線路或樣品內的接觸不良引起的接觸噪聲。
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